阿伦尼斯模型(Arrhenius Model)是可靠性工程中用于加速寿命测试的经典数学模型,通过高温应力模拟长期使用环境,快速评估电子元器件、
材料及化工产品的寿命与可靠性。本文系统解析其核心公式 ,详细阐述激活能 的实验获取方法、加速因子计算步骤及实
际应用场景(如电解电容寿命推算)。同时结合典型案例,演示如何在85℃加速条件下将1000小时测试结果外推至3.6年实际寿命,并指出模型
的局限性(如不适用于机械疲劳失效)与关键误差控制策略(温度均匀性、多应力耦合分析)。最后推荐专业工具(Reliasoft ALTA、Minitab)
辅助参数拟合与验证,助力企业高效完成可靠性验证,缩短研发周期,降低测试成本。
阿伦尼斯模型(Arrhenius Model)
原理与公式
核心公式:
:产品在温度 下的寿命(如小时、年)。
:激活能(单位:eV),反映材料对温度敏感性的关键参数。
:玻尔兹曼常数()。
:绝对温度(单位:Kelvin,需将℃转换为K,即 )。
加速因子(AF):
参数获取方法
激活能 :
硅半导体器件:
电解电容:
聚合物材料:
实验法:在至少两个不同温度下进行寿命试验,通过公式反推 。
经验值参考:
常数 :
由产品在基准温度下的寿命数据拟合得出。
应用步骤
选择加速温度:
通常选取高于实际使用温度的条件(如85℃ vs. 25℃),但避免超过材料相变点。
加速寿命试验:
在高温 下测试至失效,记录平均失效时间 。
计算加速因子 :
代入 和温度值,计算 。
推算实际寿命:
。
典型案例
场景:某电解电容在85℃加速条件下测试寿命为1000小时,需推算其在25℃下的寿命。
参数选择:
(行业经验值)
,
计算 :
实际寿命:
。
适用场景与限制
适用场景:
温度主导的失效(如氧化、电迁移、化学反应)。
电子元器件(电容、芯片)、绝缘材料、润滑油等。
限制:
不适用于机械疲劳、湿度或振动引发的失效。
高温可能导致失效机理偏移(如材料熔化)。
工具与验证
工具推荐:
加速寿命计算器(如Reliasoft ALTA、Minitab插件),可自动拟合 并计算 。
模型验证:
对比不同温度下的预测寿命与实际观测数据(残差分析)。
检查阿伦尼斯曲线线性度( vs. 应为直线)。
注意事项
温度均匀性:试验中需确保样品温度分布均匀(±2℃以内)。
激活能误差: 偏差10%可能导致寿命预测误差超过50%。
多应力耦合:若存在电压、湿度等多因素,需结合艾琳模型(Eyring Model)。
通过阿伦尼斯模型,可在数周内预测产品数年寿命,显著缩短可靠性验证周期,但需严格把控参数精度与试验条件。