表面元素分析 材料检测中心
概述
对于样品表面的一些化学信息较为关注时,会采用表面分析技术,目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS),X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱仪(AES)等。扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS)可以对样品表面形貌观察,表面元素分析,截面形貌观察,截面元素分析等,分析深度一般为微米(10-6m)级别。X射线光电子能谱仪(XPS)和俄歇电子能谱仪(AES)可对样品进行表面元素分析,表面纵向元素分析,表面元素价态分辨,分析深度通常为纳米(10-9m)级别。
同位素分析测试仪器
加速质谱仪13C、15N、18O、D氚
稳定同位素质谱仪6LI、10B同位素
电感耦合等离子质谱仪
放射性元素检测
项目类别元素
天然放射性核素限量镭-226,钍-232,钾-40,铀-238
γ辐射剂量率
总辐射量
水质放射性
总α,总β
检测仪器
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) 电感耦合等离子体质谱ICP-MS
波长型X射线荧光光谱仪(XRF) 能量散射型X射线荧光光谱仪(EDX)
有机元素分析仪 扫描电子显微镜X射线能谱仪(SEMEDS)
紫外/可见光分光光度计(UV) 原子吸收分光光度计(AAS)
原子发射分光光度计(AES) 离子色谱
直读光谱仪 CS分析仪
检测标准
GB/T 17418.7-2010 地球化学样品中贵金属分析方法 第7部分:铂族元素量的测定
YS/T 372.1-2006 贵金属合金元素分析方法 银量的测定
YS/T 372.2-2006 贵金属合金元素分析方法 铂量的测定
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