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咨询热线:18165787025 / 0755- 23727890

表面元素分析 材料检测中心

概述

对于样品表面的一些化学信息较为关注时,会采用表面分析技术,目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS),X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱仪(AES)等。扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS)可以对样品表面形貌观察,表面元素分析,截面形貌观察,截面元素分析等,分析深度一般为微米(10-6m)级别。X射线光电子能谱仪(XPS)和俄歇电子能谱仪(AES)可对样品进行表面元素分析,表面纵向元素分析,表面元素价态分辨,分析深度通常为纳米(10-9m)级别。

同位素分析测试仪器

加速质谱仪13C、15N、18O、D氚

稳定同位素质谱仪6LI、10B同位素

电感耦合等离子质谱仪

放射性元素检测

项目类别元素

天然放射性核素限量镭-226,钍-232,钾-40,铀-238

γ辐射剂量率

总辐射量

水质放射性

α,总β

检测仪器

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) 电感耦合等离子体质谱ICP-MS

波长型X射线荧光光谱仪(XRF) 能量散射型X射线荧光光谱仪(EDX)

有机元素分析仪 扫描电子显微镜X射线能谱仪(SEMEDS)

紫外/可见光分光光度计(UV) 原子吸收分光光度计(AAS)

原子发射分光光度计(AES) 离子色谱

直读光谱仪 CS分析仪

检测标准

  GB/T 17418.7-2010 地球化学样品中贵金属分析方法 第7部分:铂族元素量的测定

  YS/T 372.1-2006 贵金属合金元素分析方法 银量的测定

  YS/T 372.2-2006 贵金属合金元素分析方法 铂量的测定

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